3D Sub-nanometer scanning resolution
Nanovie STM Lepto 能在大氣下掃描樣品表面三維結構，水平方向解析能力達 1 nm 以下。
具備「I-V曲線」、「奈米刻印」、「液態掃描」、「即時針尖修復」等功能，可進行多種研究應用。
影像處理與分析工具完備：直線輪廓、島嶼計算、傅立葉轉換、過濾器、矩陣運算、立體影像等等。
DLC類鑽碳膜，常應用於表面抗磨耐腐。
掃描結果 3D 影像（範圍：1500 X 1500 nm）
縮小範圍重掃左上方 400 X 400 nm 區域。
3D 呈現可依高度定義顏色，並調整光源。
Dual Scanners & XY Motor Stage
搭載配獨特的移動平台技術，能以小於 100 nm 之距離移動樣品，易於找尋掃描目標。
內建兩組掃描模組，可直接切換。無需移除探針、樣品、或掃描器，即能選擇高解析度或是大範圍掃描器。
- 自動進針、移動平台、雙掃描頭、液態掃描
- 多項創新工能整合，便利性優於各款STM
- 不需真空、不需避震桌、不需高壓電源
- 輕便可攜、只需筆電隨時隨地可工作
Research and Analysis
硒化鉛 (PbSe), 半導體, 可應用於溫度分析與氣體檢測等。
在1000 X 1000 nm的掃描範圍下
找到石墨基板上的 PbSe
選取目標，縮小掃描範圍(400 X 400 nm)，重新掃描
取得形貌細節，並測得顆粒直徑約 15 nm；高度約 1 nm
摻氟氧化錫 SnO 2 (FTO), 可應用於觸控螢幕、光電薄膜等。
FTO 表面形貌的 3D 影像
掃描範圍：1860 X 1860 nm
FTO 顆粒的直線輪廓分析
顆粒直徑約 200 nm；高度約 3 nm
其他掃描範例:
金原子團, 掃描範圍：400 nm
顆粒直徑 6 ~ 15 nm
顆粒高度 ~ 0.8 nm
TiO2 鈦合金表面，範圍：300 nm
顆粒直徑 6 ~ 8 nm
顆粒高度 ~ 0.5 nm
石墨表面、破碎台階
掃描範圍：150 nm
台階落差：0.4~1 nm
Range of Application
基礎研究:
實驗室應用或碩博士研究：奈米科技、半導體、表面材料、光電、固態物理、溼化學與電化學等。
教育訓練:
- 訓練更多的研究員操作專業真空 STM 機台；
- 設計各種創新實驗課程；
- 一般課堂上直接進行演示教學。
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Scan with ease and speed
進階控制，友善界面
範例中，選取的掃描區塊 126 X 126 nm，左側為即時掃描影像，左下為單線輪廓。
操作程序簡易：(1)自動進針、(2)即時回饋即時調整參數、(3)步進平台移動樣品找尋目標、
(4)切換掃描頭調整至適當的掃描範圍與解析度、(5)過程中可執行針尖修復，維持掃圖品質。
Scanning Tunnelling Spectroscopy - IV Curve
掃描完成後，進入I-V Curve量測模式，點選所要量測的目標。本例為 126 nm X 126 nm 掃圖。
所用參數，電壓範圍：-2000 mV ~ +2000 m 電流範圍：-100 nA ~ +100nA
In-Liquid Scan
液態中取得奈米尺度的 3D 影像，對於溼化學與電化學，像是有機分子、銹蝕、與其他表面材料分析，都很有幫助。.
- 純水下掃描 DVD 溝槽
- 掃描範圍：560 X 560 nm
- 純水下掃描石墨台階
- 掃描範圍：1500 X 1500 nm
Lithography
掃描完成後，在樣品表面繪製向量蝕刻路徑。蝕刻完成後再原處以原針重新掃描，取得蝕刻結果。
在平整的石墨表面進行蝕刻，量測蝕刻深度為 9 ~ 12 nm，寬度約 125 nm。
Real-Time Tip Restoration
掃描過程中針尖吸附髒污、或是輕微刮傷，會造成掃圖變差。使用針尖修復功能，有機會恢復掃圖品質。
上圖所出現白點斑紋，即為針尖兩次刮到樣品表面。
使用針尖修復功能後掃描恢復正常。
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Specifications: |
| STM Scan Range and Resolution |
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High Resolution Scanner
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XY Scan Range: ~ 1 μm / XY Physical Resolution: ~ 0.5 nm
Z Scan Range:
~ 0.8 μm / Z Physical Resolution: < 0.05 nm |
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Large Area Scanner |
XY Scan Range: ~ 4 μm / XY Physical Resolution: ~ ２ nm
Z Scan Range:
~ 2.4 μm / Z Physical Resolution: ~ 0.1 nm |
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Extended Scan Mode |
High Resolution XY Scan Range: ~ 1.5 μm
Large Area XY Scan Range: ~ 6.0 μm |
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Sample Bias Voltage |
±10 V |
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Tunneling Current |
0.1 – 100 nA |
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Tip-to-sample Approach |
- Automatic & manual control via software
- Speed & step configurable. |
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Scan Features |
- Constant-current Scan
- Constant-height Scan*
- Scanning Tunnelling Spectroscopy (STS / I-V Curve)
- Lithography |
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Scan Image Size |
100 x 100 ~ 550 x 550 points |
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| XY Motor Stage (Extended Scan Mode only) |
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Distance per step in XY direction
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~ 100 nm |
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Stroke in XY direction |
± 1.5 mm |
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Tunneling Current |
0.1 – 100 nA |
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Sample Bias Voltage |
±10 V |
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| Lithography |
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Vector Writing Driving Resolution
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~ 1.0 nm |
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Vector Writing Voltage |
-10 V ~ +10 V |
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| Scanning Tunneling Spectroscopy (I-V Curve) |
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Scanning Voltage Resolution
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~ 1.0 mV |
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Scanning Voltage Range |
-10 V ~ +10 V |
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Tunneling Current |
0.1 – 100 nA |
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Accessories & Consumables |
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Sample Holder/Tip Holder |
Magnetic quick change attachment |
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Tips (Consumables) |
- Standard Tungsten Tips (CR ≤ 100nm)
- Insulated Tungsten Tips (for in-liquid imaging) |
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Camera |
High Maginification; External (for monitoring tip & sample) |
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| Machine Dimensions |
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Height X Diameter (mm) |
200 X 150 |
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Weight (kg) |
3.0 kg |
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| Electronic Box |
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Input/Output Channels |
16-bit A/D and D/A converters |
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Scan Drive Voltage |
±10 V |
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Dimensions (mm) |
211 (W) x 40 (H) X 85 (D) |
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| Computer Requirement |
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Operating System |
Windows 2000, XP, Vista, 7, 8, 10 |
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Connecting Port |
Two (2) USB ports |
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